Sick荧光传感器
Sick荧光传感器识别可见和不可见的标记，其中一些只有在 UV 灯下才可见。无论图案，颜色或表面光洁度上的任何衬底，都可以可靠地检测荧光材料和标签。发光传感器发出波长 375 nm 的UV光线。荧光材料将 UV 灯转化为长波可见光。这个返回光线被荧光传感器吸收和计算。LUTM发光传感器集成在微型外壳内一个变型同时附带静态和动态编程即使在低照度下仍能进行可靠的检测开关频率：6 kHz工作范围：8 .
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Sick荧光传感器识别可见和不可见的标记，其中一些只有在 UV 灯下才可见。无论图案，颜色或表面光洁度上的任何衬底，都可以可靠地检测荧光材料和标签。发光传感器发出波长 375 nm 的UV光线。荧光材料将 UV 灯转化为长波可见光。这个返回光线被荧光传感器吸收和计算。
LUTM
- 发光传感器集成在微型外壳内
- 一个变型同时附带静态和动态编程
- 即使在低照度下仍能进行可靠的检测
- 开关频率：6 kHz
- 工作范围：8 ... 20 mm
- IO-Link 功能
通过带有 M12 插头的电缆可以和以前的 LUT 传感器类型兼容
LUT8
- 坚固的金属壳体
- 简单的 8 级灵敏度调节
- 柱状图显示荧光强度
- 扫描范围通过更换镜头可选
- 额外的光学过滤器消除荧光背景干扰
- 光缆接口（带 20 mm 的镜头）
- 开关和模拟输出
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